介電常數測試儀

　　高頻介電常數測試儀用于測試電工材料的介電系數和損耗角正切值,也用來測試高頻阻抗元器件（電感、電容和其他諧振組件）的品質因數即:Q值。相對阻抗電橋法,高頻震蕩法的測試結果更真實地反映了材料器件在高頻工作狀態下的特性。

　　本儀器的測試回路可用被測元件L、主調諧電容C、回路的損耗電阻R構成的串聯電路來等效，當測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w0），主調電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號源頻率w0的穩定度和精度、主調電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質。模擬式的信號源穩定性差，主調電容的分辨率和讀數精度低，使用復雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。

　　WGJSTD-B傳承第一代WGJSTD-A數碼化、人性化設計理念，采用數字化主調電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數、DDS直接數字合成信號源三項創新技術，使WGJSTD-B的技術性能、使用功能大為提升,徹底改變了老款面板上印制的二組輔助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質量分析、品質控制、科研生產,也可用于高等院校的材料科學、電子信息、電子通信、等專業作科研實驗儀器。